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SN74BCT8374ADWR

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SN74BCT8374ADWR

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

no conforme

SN74BCT8374ADWR Precios y pedidos

Cantidad Precio unitario Precio Externo
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
0 items
Bajada de costes de Bom
Bajada de costes de Bom
Precios al por mayor para cada pedido, grande o pequeño
Precios al por mayor para cada pedido, grande o pequeño
Nombre Valor
Estado del producto Obsolete
tipo de lógica Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
voltaje de suministro 4.5V ~ 5.5V
Número de bits 8
Temperatura de funcionamiento 0°C ~ 70°C
tipo de montaje Surface Mount
paquete / caja 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
paquete de dispositivo del proveedor 24-SOIC
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Número de pieza relacionado

CD40117BMT
CD40117BMT
$0 $/pedazo
PI74SSTVF16857AAE
SY100EL16VZI
SY100EP16VZG-TR
SY100EL16VEZC TR
MC100EP16VSDR2
MC100EP16VSDR2
$0 $/pedazo
74LVT1403DR,118
74LVT1403DR,118
$0 $/pedazo
SY10EP16VKC
SY10EL16VDZC
SSTUA32864EC/G,551

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